服务热线

全国咨询热线:0755-28995058

产品默认广告
当前位置:主页 > 技术支撑 > UV工艺技术 >

LED封装缺陷检测方法研究

文章出处:未知责任编辑:亚博App人气:发表时间:2021-03-08 10:07
LED芯片封装缺陷检测方法是通过检测LED支架回路光电流间接实现的。 在具有不同磁芯结构的线圈的两端,由支架环的光电流激发的磁场是不同的感生电动势大小; 对于具有不同磁芯结构的线圈,检测信号的信噪比差异很大。 具体性能如下:
一:对于焊接质量合格的LED,实验检测值与理论计算值一致。 图5(a)显示了使用带状卷铁芯的实验结果。 在封装过程中,焊接合格的LED时,信号检测端产生的光激发信号被放大,滤波,峰值检测,幅值约为60mV。 选择12mil黄色LED芯片计算理论值,切屑面积A = 0.3mm×0.3mm,取β= 0.5。 当半导体材料在单位时间内吸取的每单位
面积的平均光强度(以光子数为单位)为5.45×1021 /m2s时时,可以根据公式(1)计算光生电流为 约42μA。 根据Biot-Savart定理,叠加定理和法拉第电磁感应定律,12mil黄色LED芯片in信号检测端感生电动势的幅度约为63mV,消除了实验误差和计算误差。 理论值与实验值吻合良好。

LED封装缺陷检测方法研究


二:对于环形铁心线圈,实验值小于理论值。 根据公式(8),对于带状结构的磁芯线圈,假设磁芯的有效磁路长度le = 100lg,这时有效磁导率μe≈100。 如果将磁芯改变为环形,则此时非闭合气隙长度lg≈0,此时有效磁导率μe≈μr=2300。 根据理论计算,具有合格焊接质量的1200万黄光LED在信号检测端感生电动势时的振幅约为1.4V。 从图5(b)可以看出,实验信号值约为220mV,实验值远小于理论值。 以上计算是在理想条件下进行的。 在实际的实验过程中,环形铁芯线圈是通过将U形磁芯和条形磁芯重叠而形成的。 重叠气隙lg仍然存在,因此磁路不存在。它可能已完全闭合。 根据公式(8),气隙对有效磁导率有很大的影响,因此有效磁导率仍小于相对磁导率。 因此,实验值远小于理论值。
三:不同的磁芯结构可以实现LED封装缺陷的检测,但是检测信号的信噪比却大不相同。 从图5可以看出,虽然实验中的磁芯线圈具有不同的结构,但焊接质量合格的LED的光激发检测信号明显大于非金属的LED的光激发检测信号。 在封装过程中会在芯片电极表面上形成一层薄膜。 通过比较两者之间的检测信号幅度的大小,可以在封装过程中拾取芯片电极表面带有非金属膜的LED。 对于图5(a),实验中使用的线圈磁芯具有带状结构,并且气隙lg磁感应强度B的增强因子为有效磁导率μe。 同时,检测信号容易受到外部干扰,因此检测信号的幅度相对较高。 较大的检测噪声使得两个芯片的光激励信号的信噪比较小,这给后端信号处理带来了困难,并影响了封装缺陷检测的准确性。 线圈中的磁芯重叠成一个环路,形成一个闭合的磁路,磁感应强度B得到有效增强,磁损耗较小,并且来自空间电磁场的干扰相对较小,因此信号对 大大提高了检测信号的噪声比。四:不同的磁芯结构会影响谐振电路的工作频率。 在实验过程中,LC谐振回路的电容C相等,环形磁芯的有效磁导率大于带状磁芯的有效磁导率,因此环形磁芯线圈的电感L大于环形磁芯的电感L。 带状芯线圈,因此其谐振电路谐振频率较小; 从图5可以看出,由条形芯线圈形成的谐振电路的谐振频率约为9.75kHz,而由环形芯线圈形成的谐振电路的谐振频率约为7.33kHz。
五:可以获得理论分析和实验结果分析。 该方法对LED支架回路电流具有很高的检测精度。 通过检测由支架回路电流激发的磁场,在线圈的两端感应出电动势的大小,并进行焊接。比较合格的LED的检测信号,以实现对在封装过程中存在封装缺陷的LED的检测。 包装过程。

本文章由三昆m2s时厂家整理原创,转载请注明出处:/uv/5814.html

上一篇:UV光固机概况 ??|??下一篇:LED点光源照明散热技术

推荐文章

最新资讯文章

在线客服

主营:UV机,LEDUV机,UV固化机,UVLED光固化机,UV烤箱,UV灯管,IR隧道炉,UV配件

李炳基 李炳基:13823369867 黄朝阳 黄朝阳:13510246266 黄永贵 黄永贵:13913507139
座机:0755-28995058
传真:0755-89648039
在线客服
XML 地图 | Sitemap 地图